Поиск Закупок
Тарифы
Блог
Аутсорсинг
info@zakupki360.ru | 8(800)3333-717
Регистрация/вход
Главная
Тендер №RSTATOM25042300220
На контроль
Работа комиссии
К источнику
мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
Размещено:
25.04.2023
Место поставки
Отрасль
-
Заказчик
Высокотехнологический НИИ неорганических материалов имени академика А.А. Бочвара, АО
Начальная цена
0 ₽
Обеспечение заявки
0 ₽
Обеспечение контракта
0 ₽
Номер закупки
RSTATOM25042300220
Способ размещения
Иные способы
Площадка
ЕЭТП Росэлторг
Документы
Технические характеристики
03.05.2023
Технические характеристики
03.05.2023
Технические характеристики
03.05.2023
Технические характеристики
03.05.2023
Контакты
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО ВЫСОКОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ НЕОРГАНИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ИМЕНИ АКАДЕМИКА А А БОЧВАРА
Почтовый адрес
Адрес места нахождения
Контактное лицо
Телефон
7-499-7500366
Факс
Электронная почта
NatSeMukhina@bochvar.ru
Информация о контрактной службе, контрактном управляющем
-
Дополнительная информация
Похожие закупки
Опубликована
Закупка
Начальная цена
14.06.2023
907-U020-23/424 Оказание услуги: «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)» (905-U020-23/112)
1 090 000 ₽
18.05.2023
мониторинг цен в электронной форме на Поставка пресс-форм
15.05.2023
мониторинг цен в электронной форме на О запросе технико-коммерческого предложения на поставку наконечника измерительного 06025693 Testo (или аналог)
15.05.2023
мониторинг цен в электронной форме на Поставка моновакууметра КМВ-22Р.(-1-1,5кПа) G12.1,5 (или аналог)
05.05.2023
мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»