ТарифыБлогАутсорсинг
info@zakupki360.ru | 8(800)3333-717
Регистрация/вход
На контроль
Работа комиссии

907-U020-23/424 Оказание услуги: «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)» (905-U020-23/112)

Размещено:14.06.2023
Место поставки
Рогова ул, 5А
Отрасль
-
Начальная цена
1 090 000 ₽
Обеспечение заявки
0 ₽
Обеспечение контракта
0 ₽
Номер закупки
RAM230530/0514/076
Способ размещения
Иные способы
Площадка
Документы
АЗ более 100 тр (Участник)
15.06.2023
Извещение_МЗ
15.06.2023
Договор
15.06.2023
Контакты
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО ВЫСОКОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ НЕОРГАНИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ИМЕНИ АКАДЕМИКА А А БОЧВАРА
Почтовый адрес
Рогова ул, 5А
Адрес места нахождения
Рогова ул, 5А
Контактное лицо
И.М. Абдюханов
Телефон
(499) 1908297, (499) 1908297
Факс
Электронная почта
IMAbdyukhanov@bochvar.ru
Информация о контрактной службе, контрактном управляющем
-
Дополнительная информация
Похожие закупки
ОпубликованаЗакупкаНачальная цена
05.05.2023мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
05.05.2023«Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
25.04.2023мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
25.04.2023«Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
18.11.2019907-U020-19/415 Проведение тонких структурных исследований образцов Nb3Sn стрендов методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии950 000 ₽