Проведение тонких структурных исследований образцов Nb3Sn стрендов методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии

Начальная цена

0 ₽

Обеспечение заявки

0 ₽

Обеспечение контракта

0 ₽

Номер закупки

F2435324

Способ размещения

Запрос котировок

Площадка

ЗАПРОС ТЗ

23.04.2018

АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО ВЫСОКОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ НЕОРГАНИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ИМЕНИ АКАДЕМИКА А А БОЧВАРА

Почтовый адрес

123060, Россия, г. Москва, Москва, а/я 369

Адрес места нахождения

123098, Россия, г. Москва, Москва, ул. Рогова, д. 5а

Контактное лицо

Телефон

Факс

Электронная почта

Информация о контрактной службе, контрактном управляющем

Дополнительная информация

Опубликована	Закупка	Начальная цена
14.06.2023	907-U020-23/424 Оказание услуги: «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)» (905-U020-23/112)	1 090 000 ₽
25.04.2023	«Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
15.09.2021	907-U020-21/567 Поставка расходных материалов для участка электронной микроскопии	180 000 ₽
13.07.2021	Расходные материалы для участка электронной микроскопии (2716034)
13.07.2021	Расходные материалы для участка электронной микроскопии