«Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»

Начальная цена

0 ₽

Обеспечение заявки

0 ₽

Обеспечение контракта

0 ₽

Номер закупки

F3058304

Способ размещения

Иные способы

Площадка

Фабрикант

Приложение 1 Техническое задание

25.04.2023

Приложение 3 Проект договора

25.04.2023

Приложение 2 Образец коммерческого предложения

25.04.2023

Приложение 4 Справка об информированности

25.04.2023

АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО ВЫСОКОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ НЕОРГАНИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ИМЕНИ АКАДЕМИКА А А БОЧВАРА

Почтовый адрес

123098, Россия, г. Москва, 123098, Г МОСКВА, УЛ РОГОВА, 5А

Адрес места нахождения

123098, Россия, г. Москва, РОГОВА, Д.5А

Контактное лицо

Телефон

Факс

Электронная почта

Информация о контрактной службе, контрактном управляющем

Дополнительная информация

Опубликована	Закупка	Начальная цена
14.06.2023	907-U020-23/424 Оказание услуги: «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)» (905-U020-23/112)	1 090 000 ₽
05.05.2023	мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
25.04.2023	мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
18.11.2019	907-U020-19/415 Проведение тонких структурных исследований образцов Nb3Sn стрендов методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии	950 000 ₽
23.04.2018	Проведение тонких структурных исследований образцов Nb3Sn стрендов методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии