ТарифыБлогАутсорсинг
info@zakupki360.ru | 8(800)3333-717
Регистрация/вход
На контроль
Размещение завершено

«Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»

Начальная цена
0 ₽
Обеспечение заявки
0 ₽
Обеспечение контракта
0 ₽
Номер закупки
F3062304
Способ размещения
Иные способы
Площадка
Документы
Приложение 3 Проект договора
05.05.2023
Приложение 1 Техническое задание
05.05.2023
Приложение 4 Справка об информированности
05.05.2023
Приложение 2 Образец коммерческого предложения
05.05.2023
Контакты
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО ВЫСОКОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ НЕОРГАНИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ИМЕНИ АКАДЕМИКА А А БОЧВАРА
Почтовый адрес
123098, Россия, г. Москва, 123098, Г МОСКВА, УЛ РОГОВА, 5А
Адрес места нахождения
123098, Россия, г. Москва, РОГОВА, Д.5А
Контактное лицо
Телефон
Факс
Электронная почта
Информация о контрактной службе, контрактном управляющем
-
Дополнительная информация
Похожие закупки
ОпубликованаЗакупкаНачальная цена
14.06.2023907-U020-23/424 Оказание услуги: «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)» (905-U020-23/112)1 090 000 ₽
05.05.2023мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
25.04.2023мониторинг цен в электронной форме на «Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
25.04.2023«Комплексный анализ фазового состава методом рентгенфазового анализа (РФА) и исследование структуры сверхпроводящего слоя методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (СЭМ/ПЭМ)»
18.11.2019907-U020-19/415 Проведение тонких структурных исследований образцов Nb3Sn стрендов методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии950 000 ₽